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SuperView W1白光干涉儀檢測設備分辨率0.1μm，重復性0.1%，可以進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像的測量過程，通過系統軟件分析器件表面3D圖像并進行數據處理與分析，實現了器件表面形貌3D測量的效率高與簡化性。

?現有的接觸式測量方法具有測量速度慢、易劃傷測量表面的缺點，而單一的光學非接觸測量方法難以完成對大面形或曲率較大的高反射曲面零件三維形貌的高精度測量。SuperView W1白光干涉儀檢測儀器實現了超精密加工高反射曲面三維形貌的高精度非接觸測量。

中圖儀器利用客戶現場一臺已經廢棄的三坐標平臺進行氣浮隔振改造，在完成隔振模塊和WX-100白光干涉儀便攜式測頭的安裝后，客戶獲得了一臺具有超大尺寸平臺和負載的高精度白光干涉儀。

Super View白光干涉儀國內品牌采用的測量方式是非接觸無損測量方式，避免了對被測物體造成劃痕和磨損，尤其適用于各種柔軟材料、易腐蝕材料和傳統方式無法檢測的表面形態測量和分析。集合了自身白光干涉三維重建技術和微納米顯微測量三維軟件，以及采用了集合相移法PSI的高精度和垂直法VSI大范圍兩大優點的擴展型相移算法EPSI，分辨率0.1μm，重復性0.1%，比肩進口品牌，讓輪廓測量價格*為實惠。

中圖儀器白光干涉儀專用于非接觸式快速測量，具有三維形貌測量和圖像分析的功能。適合檢測的樣品按領域分為微納材料、超精密加工（機械、光學）、半導體封裝、消費電子類這四個領域。

SuperView W3白光干涉儀可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、工科研院所等領域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，