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SuperViewW中圖儀器光學3D輪廓測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。它結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。

Chotest光學表面粗糙度輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SJ5800工件輪廓圓度測量儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，專業測試軸承內外側。采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，可以對零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進行檢測。

SuperViewW光學表面輪廓白光干涉儀測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SJ5800接觸式二維粗糙度輪廓儀分辨率高達到0.1nm，系統殘差小于3nm。一鍵實現對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。它具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，專業測試軸承內外側。

SuperViewW光學三維粗糙度輪廓儀一體機基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。