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0.2ppm線性測量精度光纖激光尺是新一代高精度位置檢測設備，基于激光干涉測量原理，專為超精密加工、微電子制造、光刻技術、航空航天等高要求領域設計。

PLR3000納米級高精度光纖激光尺具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時其熱源隔離設計，保證了更高的穩定性，具有安裝快捷，易于準直等特點。同時提供多種干涉探頭配置 ，用戶可根據實際需求選擇角錐棱鏡干涉儀、平面鏡干涉儀和差分干涉儀以及無內置干涉鏡組的測量探頭，滿足用戶各種復雜場景應用。

PLR3000超高精度位置檢測光纖激光尺0.02ppm穩頻精度光纖激光尺突破性技術融合高穩定性氦氖激光光源與保偏光纖傳輸，支持單軸至多軸測量，分辨率可達10nm，線性精度高達0.2ppm，為復雜工業場景提供精準、可靠的位置反饋與控制。

PLR3000激光干涉尺測量儀具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時其熱源隔離設計，保證了更高的穩定性，具有安裝快捷，易于準直等特點。可根據用戶需求，配置單軸、雙軸以及三軸輸出，輕松實現多軸測量或多自由度測量。

PLR3000納米分辨率激光干涉尺0.02ppm穩頻精度光纖激光尺突破性技術融合高穩定性氦氖激光光源與保偏光纖傳輸，支持單軸至多軸測量，分辨率可達10nm，線性精度高達0.2ppm，為復雜工業場景提供精準、可靠的位置反饋與控制。

PLR3000非接觸高精度激光干涉尺具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時其熱源隔離設計，保證了更高的穩定性，具有安裝快捷，易于準直等特點。可根據用戶需求，配置單軸、雙軸以及三軸輸出，輕松實現多軸測量或多自由度測量。