掃描電鏡是眾多不同研究領(lǐng)域中的一個(gè)關(guān)鍵工具，范圍覆蓋從材料科學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)甚至生命科學(xué)領(lǐng)域所涉及的一切內(nèi)容。只要需要關(guān)于樣品表面或近表面區(qū)域的形貌、成分和結(jié)構(gòu)信息，掃描電鏡分析都是必要的步驟，SEM掃描電鏡也就成為必要的工具。傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施，而中圖儀器的CEM3000臺(tái)式電鏡儀器的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅(jiān)固耐用得多。

CEM3000材料分析掃描電子顯微電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對(duì)真空度要求不高。臺(tái)式電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，中圖儀器臺(tái)式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。即便在一些常規(guī)電鏡難以耐受的工作環(huán)境中，該系列臺(tái)式電鏡也能憑借抗振防磁技術(shù)，展現(xiàn)出色的性能。

CEM3000憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

產(chǎn)品功能

1）緊湊的外型，能夠不受場(chǎng)地尺寸制約，真正做到了空間適用性，用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時(shí)CEM3000也能根據(jù)用戶需求，輕松移機(jī)，一臺(tái)機(jī)器多處開(kāi)花；

2）高分辨率，能夠?qū)ξ⒊叽缣卣鬟M(jìn)行觀測(cè)分析，滿足用戶的觀測(cè)需求；

3）快速抽放氣，憑借真空系統(tǒng)設(shè)計(jì)，該系列臺(tái)式電鏡縮短了用戶抽放氣的等待時(shí)間；

4）高易用性，能夠快速成像、一鍵出片，用戶使用自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無(wú)需過(guò)多人工操作，就可得到高質(zhì)量拍攝圖片；

5）大樣品倉(cāng)，CEM3000A在保證較小外型尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉(cāng)室，從而容納更大尺寸樣品；

6）高抗振防磁性能，全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度；

7）可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類型的樣品進(jìn)行觀測(cè)；

8）能夠提供多種成像參數(shù)供用戶選擇，滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

9）CEM3000四象限高分辨探頭掃描電鏡搭配有多種探頭，能夠?qū)悠愤M(jìn)行多種手段的分析。

機(jī)型選擇

CEM3000材料分析掃描電子顯微電鏡全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡，不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和高效的工業(yè)應(yīng)用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠，在現(xiàn)代制造業(yè)中為用戶帶來(lái)突破性的檢測(cè)解決方案：

CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）：70mm×70mm樣品倉(cāng)，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測(cè)、涂層性能評(píng)估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測(cè)、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。

應(yīng)用案例

金屬材料分析

花粉微觀形態(tài)

部分技術(shù)指標(biāo)

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