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共聚焦顯微鏡—賦能光學元件精密質控
2025-06-04

在光學精密加工領域,微納結構元件的三維形貌檢測是保障器件性能的重要環節。以微透鏡陣列、衍射光學元件為代表的精密光學元件,其特征尺寸已突破亞微米量級,對表面輪廓精度與結構面形誤差的檢測要求達到納米級分辨率。若加工過程中產生的邊緣塌陷、周期畸變...

  • 2025-05-26

    測針輪廓儀廣泛應用于表面輪廓測量,主要用于分析工件的表面特性,包括粗糙度、紋理、平整度、形狀誤差等。在進行精準的測量時,探頭的選擇至關重要,因為不同類型的探頭具有不同的測量能力和適應性。不同類型的探頭適用于不同的測量場景。以下是常見的幾種探...

  • 2025-05-23

    晶圓是半導體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構建于晶圓之上,其質量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續推進的物質基礎。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp)和彎曲度(Bow)是直接影響工藝穩定性和芯片良率的關鍵參數:1...

  • 2025-05-23

    在微觀世界的探索之旅中,精準測量材料如同在錯綜復雜的迷宮中尋找出口,是現代制造業和科研領域的關鍵任務。臺階儀、光學輪廓儀和共聚焦顯微鏡,這些看似冰冷的儀器設備,實則是微觀世界的“度量衡”,憑借其技術與性能,為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。Na...

  • 2025-05-23

    當你用手機拍攝一朵花的微距照片時,放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你,科學家手中的"相機"能將物體放大百萬倍,連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見,你是否會好奇這背后的黑科技?這把打開微觀宇宙的鑰匙,正是掃描電子顯微鏡(SEM)。SEM的"超能...

  • 2025-05-23

    當“精度焦慮”成為制造業的隱形門檻:在半導體光刻中,1nm偏差可能導致整片晶圓報廢;在精密機床加工中,熱變形讓傳統測量工具“失靈”……“高精度、高穩定、抗干擾”——工業超精密制造的三大痛點,如何破局?PLR3000系列光纖激光尺基于激光干涉...

  • 2025-05-21

    行業背景概述:X射線計算機斷層掃描成像系統,簡稱CT。近年來,全球CT市場展現出穩健的擴張態勢。在亞太地區,伴隨各國對醫療基礎設施建設的持續投入,以及人口老齡化程度的加深,CT設備迎來了爆發式的市場需求。與此同時,多層螺旋CT、能譜CT等一...

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